Measurement
System Division

計測システム事業部

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[ロゴに関して] 正弧波をアナログ・デジタル双方に通じる表現で不変の電子技術をイメージしています。
業務内容
Business & Overview
各種電子機器の検査システム / 自動化・省力化装置や
各種計測機器など、お客様の要望に合せたカスタム製品の
「提案」と「設計・製作」をいたします。
- 製品を通じ、お客様との最高のパートナーシップを目指します!-
私たちサンエイ計測システム事業部は、
お客様の製品開発や試験において、お客様のニーズに応じた高度な専用       設計を要する装置や計測機器などを、
小規模事業者の特性を活かし、高い技術力で低価格に提供することを      心がけています。
私共は、お客様とのパートナーシップを第一に日々活動しております。
検査システムや計測システム、FA自動化/省力化機器でお困りでしたら、お気軽にお問い合せください。
パワーエレクトロニクス(⾞載半導体、パワー半導体)分野の検査、計測技術に注⼒しています︕
✔ 各種検査装置の受託設計開発
✔ 各種計測機器の受託設計開発
✔ 各種自動化機器の受託設計開発
✔ 各種電⼦回路(デジタル、アナログ)、プリント基板設計、製造

主な取扱い製品

Handling Product

FET/IGBTテストシステム
IPM/IGBTテストシステム

  • 機能
    FET/IGBTの静特性及び動特性測定
    IPM/IGBTの静特性及び動特性測定
  • 特徴
    HT-1100、TT-1000に接続して耐圧、リークを含めた静特性全般の一括測定が可能。
    センスエミッタ(ソース)付きカレントセンスIGBT/FETのセンスレシオの測定。
  • 測定項目
    VP,RON,VDSON,VFSD,IDON,IS,RS
FET/IGBTテストシステム・IPM/IGBTテストシステム IPM/IGBTテストシステム

di/dt テストシステム

  • 機能
    MOS-FETやダイオードの逆回復波形や破壊波形をオシロスコープから取り込み、ソフトウェアでdi/dtを求めその特性を判定します。
  • 特徴
    OPEN/SHORT試験、ドライバーチェック機能もあり信頼性を向上させています。
di/dt テストシステム

L負荷テストシステム

  • 機能
    トランジスタ、MOS-FETのインダクタンス負荷時でのスイッチング動作に対する耐量を、 ターンオフ波形の電流と電圧のエリアで保証する試験器です。
  • 特徴
    クランプ電圧が装備されているため 各耐圧での細かな耐量を調べることができます。
L負荷テストシステム

スイッチングタイムテストシステム

  • IGBT、MOS-FET、ダイオードのスイッチング特性、及び短絡耐量を測定する装置です。
スイッチングタイムテストシステム

熱抵抗テストシステム

  • 半導体内部の熱抵抗バランスを測定する高信頼性測定器。 高輝度LED等 SiC 製品にも対応。
熱抵抗テストシステム

納品までの流れ

Flow